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高頻加熱型TDS的特點
高頻加熱式升溫解吸分析儀IH-TDS1700是在超高真空下通過電磁感應(yīng)加熱樣品,利用四極質(zhì)譜儀(QMS)實時觀察樣品解吸分子的分析儀。由于超高真空,背景很低,可以進(jìn)行高靈敏度測量。由于大氣和產(chǎn)生的氣體引起的副反應(yīng)的影響被大大抑制,因此可以在理想條件下觀察樣品中的解吸分子。
對于加熱效率好的金屬樣品,可以加熱到1700℃以上。也可以測量鋼中擴散氫的低溫 TDS,它是鋼材的氫脆因子。
設(shè)備主體的控制由PLC(可編程邏輯控制器)自動進(jìn)行,界面采用觸摸屏。
負(fù)載鎖定室對于高測量效率(高通量)和高靈敏度是不可少的。我們的負(fù)載鎖定室和樣品轉(zhuǎn)移機制只允許將樣品快速引入超高真空分析室。
如果沒有負(fù)載鎖定室,每次更換樣品時分析室都必須對大氣開放。一旦打開到大氣中,大量的大氣成分(尤其是水分)被吸附在分析室中,需要很長時間才能充分排出。
由于可以測量冷卻后的鋼試片,因此可以高精度地量化,而不會泄漏具有大氫擴散系數(shù)的 BCC 鋼的擴散氫。
冰霜附著在冷卻的鋼試樣上,這種冰霜的解吸會影響氫信號并導(dǎo)致擴散氫量出現(xiàn)誤差(增加不確定性)。IH-TDS1700 冷阱(可選)可以捕獲霜,以最大限度地減少霜的影響并獲得扭曲的擴散氫解吸光譜。
數(shù)據(jù)處理程序可以量化解吸的氣體。有必要定期校準(zhǔn)質(zhì)譜儀的靈敏度以量化解吸氣體。
使用標(biāo)準(zhǔn)漏孔進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)需要與氣體類型相同數(shù)量的昂貴標(biāo)準(zhǔn)漏孔,并且校準(zhǔn)工作非常耗時。此外,在使用標(biāo)準(zhǔn)泄漏有毒氣體時,安全和健康管理變得更加嚴(yán)格。
目前的量化程序可以比標(biāo)準(zhǔn)泄漏校準(zhǔn)方法更快速、更輕松、更安全地量化解吸氣體。只需定期測量我們的 NIST 可追溯氫標(biāo)準(zhǔn)樣品,即可獲得高度準(zhǔn)確的結(jié)果。經(jīng)證實,我公司開發(fā)的靈敏度校正方法即使在氫氣以外的氣體中也能校正靈敏度,與基于AIST(AIST)國標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)漏孔校準(zhǔn)的定量結(jié)果吻合較好。 .